DETECTION OF PATTERN-SENSITIVE FAULTS IN RANDOM-ACCESS MEMORIES

被引：59
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作者：
HAYES, JP
机构：
[1] UNIV SO CALIF,DEPT ELECT ENGN,LOS ANGELES,CA 90007
[2] UNIV SO CALIF,COMP SCI PROGRAM,LOS ANGELES,CA
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 1975年 / C 24卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1109/T-C.1975.224182
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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页数：8
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