BUILT-IN SELF-TESTING RAM - A PRACTICAL ALTERNATIVE

被引：14

作者：

SALUJA, KK ^{[1
]}

SNG, SH ^{[1
]}

KINOSHITA, K ^{[1
]}

机构：

[1] HIROSHIMA UNIV,DEPT INFORMAT & BEHAV SCI,HIROSHIMA 730,JAPAN

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1987年 / 4卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/MDT.1987.295113

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

DATA STORAGE, DIGITAL

引用

页码：42 / 51

页数：10

共 24 条

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