A 400 KV HIGH RESOLUTION-ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPE NEWLY CONSTRUCTED

被引：7

作者：

BANDO, Y ^{[1
]}

MATSUI, Y ^{[1
]}

KITAMI, Y ^{[1
]}

INOMATA, Y ^{[1
]}

IBE, K ^{[1
]}

HONDA, T ^{[1
]}

HARADA, Y ^{[1
]}

机构：

[1] JEOL LTD,DIV ELECTRON OPT TECH & ENGN,TOKYO 196,JAPAN

来源：

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS | 1984年 / 23卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.23.L412

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：L412 / L414

页数：3