RELIABILITY-ANALYSIS OF A 2 STATE REPAIRABLE PARALLEL REDUNDANT SYSTEM UNDER HUMAN FAILURE

被引：3

作者：

GUPTA, PP

SHARMA, RK

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1986年 / 26卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(86)90714-6

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：221 / 224

页数：4

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共 5 条

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