CHEMOMETRICS AND INFRARED-SPECTROSCOPY FOR THE ANALYSIS OF THIN-FILM DIELECTRICS

被引：0

作者：

HAALAND, DM

WANGMANEERAT, B

NIEMCZYK, TM

机构：

[1] SANDIA NATL LABS,ALBUQUERQUE,NM 87185

[2] UNIV NEW MEXICO,DEPT CHEM,ALBUQUERQUE,NM 87131

来源：

ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY | 1992年 / 203卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

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