GAMMA-TOTAL DOSE EFFECTS ON ALS BIPOLAR OXIDE SIDEWALL ISOLATED DEVICES

被引：6
作者：
BUSCHBOM, ML
JEFFREY, EN
RHINE, LE
SPRATT, DB
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1983年 / 30卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1109/TNS.1983.4333090
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：4105 / 4109
页数：5
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共 2 条
  • [1] LONG DM, GOMAC 1982, P315
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    PEASE, RL
    TURFLER, RM
    PLATTETER, D
    EMILY, D
    BLICE, R
    [J]. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 1983, 30 (06) : 4216 - 4223
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