FIELD-ION MICROSCOPY OF SILICON

被引：50

作者：

MELMED, AJ ^{[1
]}

STEIN, RJ ^{[1
]}

机构：

[1] NATL BUR STAND,WASHINGTON,DC 20234

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0039-6028(75)90375-1

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：645 / 648

页数：4

共 6 条

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