FIELD-ION MICROSCOPY OF SILICON

被引：50
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作者：
MELMED, AJ [1 ]
STEIN, RJ [1 ]
机构：
[1] NATL BUR STAND,WASHINGTON,DC 20234
来源：
SURFACE SCIENCE | 1975年 / 49卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1016/0039-6028(75)90375-1
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];
学科分类号：
070304 ; 081704 ;
摘要：
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页码：645 / 648
页数：4
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