TEST-GENERATION THROUGH LOGIC PROGRAMMING

被引：8

作者：

SVANAES, D ^{[1
]}

AAS, EJ ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV TRONDHEIM,DEPT ELECT ENGN,N-7034 TRONDHEIM,NORWAY

来源：

INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL | 1984年 / 2卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0167-9260(84)90006-3

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：49 / 67

页数：19

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