MODELING AND TEST-GENERATION ALGORITHMS FOR MOS CIRCUITS

被引：0

作者：

JAIN, SK

AGRAWAL, VD

机构：

来源：

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：426 / 433

页数：8

共 12 条

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