WHAT DETERMINES THE PROBING DEPTH OF ELECTRON YIELD XAS (VOL 324, PG L371, 1995)

被引：5

作者：

SCHROEDER, SLM

MOGGRIDGE, GD

ORMEROD, RM

RAYMENT, T

LAMBERT, RM

机构：

[1] UNIV CAMBRIDGE, DEPT CHEM, CAMBRIDGE CB2 1EW, ENGLAND

[2] UNIV KEELE, DEPT CHEM, KEELE ST5 5BG, STAFFS, ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0039-6028(95)00394-0

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

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