CARRIER LIFETIMES IN AMORPHOUS-SILICON JUNCTIONS FROM DELAYED AND INTERRUPTED FIELD EXPERIMENTS

被引：34

作者：

SPEAR, WE

STEEMERS, HL

MANNSPERGER, H

机构：

来源：

PHILOSOPHICAL MAGAZINE B-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STATISTICAL MECHANICS ELECTRONIC OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES | 1983年 / 48卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1080/13642818308228575

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：L49 / L54

页数：6