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ELECTRON-MICROSCOPY AND PLASTIC-DEFORMATION
被引：0
作者：
COULOMB, P
JOUFFREY, B
机构：
来源：
JOURNAL DE MICROSCOPIE ET DE SPECTROSCOPIE ELECTRONIQUES
|
1976年
/
1卷
/
04期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页码：569 / 570
页数：2
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