首页
学术期刊
论文检测
AIGC检测
热点
更多
数据
DOUBLE-GATE SILICON-ON-INSULATOR TRANSISTOR WITH VOLUME INVERSION - A NEW DEVICE WITH GREATLY ENHANCED PERFORMANCE
被引:569
作者
:
BALESTRA, F
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BALESTRA, F
CRISTOLOVEANU, S
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CRISTOLOVEANU, S
BENACHIR, M
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BENACHIR, M
BRINI, J
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BRINI, J
ELEWA, T
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
ELEWA, T
机构
:
来源
:
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
|
1987年
/ 8卷
/ 09期
关键词
:
D O I
:
10.1109/EDL.1987.26677
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:410 / 412
页数:3
相关论文
共 5 条
[1]
DEEP DEPLETED SOI MOSFETS WITH BACK POTENTIAL CONTROL - A NUMERICAL-SIMULATION
BALESTRA, F
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CNRS, Lab de Physique des Composants, a Semiconducteurs, Grenoble, Fr, CNRS, Lab de Physique des Composants a Semiconducteurs, Grenoble, Fr
BALESTRA, F
BRINI, J
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CNRS, Lab de Physique des Composants, a Semiconducteurs, Grenoble, Fr, CNRS, Lab de Physique des Composants a Semiconducteurs, Grenoble, Fr
BRINI, J
GENTIL, P
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CNRS, Lab de Physique des Composants, a Semiconducteurs, Grenoble, Fr, CNRS, Lab de Physique des Composants a Semiconducteurs, Grenoble, Fr
GENTIL, P
[J].
SOLID-STATE ELECTRONICS,
1985,
28
(10)
: 1031
-
1037
[2]
CELLER GK, 1986, 1986 IEEE SOS SOI WO
[3]
Cristoloveanu S., 1986, Insulating Films on Semiconductors. Proceedings of the International Conference INFOS 85, P49
[4]
CRISTOLOVEANU S, 1987, UNPUB J APPL PHYS
[5]
CALCULATED THRESHOLD-VOLTAGE CHARACTERISTICS OF AN XMOS TRANSISTOR HAVING AN ADDITIONAL BOTTOM GATE
SEKIGAWA, T
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
SEKIGAWA, T
HAYASHI, Y
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HAYASHI, Y
[J].
SOLID-STATE ELECTRONICS,
1984,
27
(8-9)
: 827
-
828
←
1
→
共 5 条
[1]
DEEP DEPLETED SOI MOSFETS WITH BACK POTENTIAL CONTROL - A NUMERICAL-SIMULATION
BALESTRA, F
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CNRS, Lab de Physique des Composants, a Semiconducteurs, Grenoble, Fr, CNRS, Lab de Physique des Composants a Semiconducteurs, Grenoble, Fr
BALESTRA, F
BRINI, J
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CNRS, Lab de Physique des Composants, a Semiconducteurs, Grenoble, Fr, CNRS, Lab de Physique des Composants a Semiconducteurs, Grenoble, Fr
BRINI, J
GENTIL, P
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CNRS, Lab de Physique des Composants, a Semiconducteurs, Grenoble, Fr, CNRS, Lab de Physique des Composants a Semiconducteurs, Grenoble, Fr
GENTIL, P
[J].
SOLID-STATE ELECTRONICS,
1985,
28
(10)
: 1031
-
1037
[2]
CELLER GK, 1986, 1986 IEEE SOS SOI WO
[3]
Cristoloveanu S., 1986, Insulating Films on Semiconductors. Proceedings of the International Conference INFOS 85, P49
[4]
CRISTOLOVEANU S, 1987, UNPUB J APPL PHYS
[5]
CALCULATED THRESHOLD-VOLTAGE CHARACTERISTICS OF AN XMOS TRANSISTOR HAVING AN ADDITIONAL BOTTOM GATE
SEKIGAWA, T
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
SEKIGAWA, T
HAYASHI, Y
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HAYASHI, Y
[J].
SOLID-STATE ELECTRONICS,
1984,
27
(8-9)
: 827
-
828
←
1
→