THE RELIABILITY OF COMPUTER MEMORIES

被引：12
作者：
MCELIECE, RJ
机构：
来源：
SCIENTIFIC AMERICAN | 1985年 / 252卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1038/scientificamerican0185-88
中图分类号：
O [数理科学和化学]; P [天文学、地球科学]; Q [生物科学]; N [自然科学总论];
学科分类号：
07 ; 0710 ; 09 ;
摘要：
引用
收藏
页码：88 / &
相关论文
共 3 条
[1]   ERROR-CORRECTING CODES FOR SEMICONDUCTOR MEMORY APPLICATIONS - A STATE-OF-THE-ART REVIEW [J].
CHEN, CL ;
HSIAO, MY .
IBM JOURNAL OF RESEARCH AND DEVELOPMENT, 1984, 28 (02) :124-134
[2]   SOFT ERRORS IN VLSI - PRESENT AND FUTURE [J].
MAY, TC .
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS HYBRIDS AND MANUFACTURING TECHNOLOGY, 1979, 2 (04) :377-387
[3]  
MCELIECE RJ, 1978, THEORY INFORMATION C
1