未找到相关数据
TEM INVESTIGATION OF THIN GAAS ALXGA1.X AS LAYERS
被引：0
作者：
DEJONG, AF
[1
]
机构：
[1] PHILIPS RES LABS,5600 JA EINDHOVEN,NETHERLANDS
关键词：
D O I：
10.1016/0304-3991(88)90169-6
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
页码：436 / 437
页数：2
相关论文