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STUDY OF THE GROWTH MODE OF A THIN SILVER DEPOSIT ON SILICIUM USING AUGER-ELECTRON SPECTROMETRY
被引：0
作者：
VIGNES, JL
DENJEAN, P
LEHERICY, J
LANGERON, JP
机构：
来源：
VIDE-SCIENCE TECHNIQUE ET APPLICATIONS
|
1985年
/
40卷
/
226期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TB3 [工程材料学];
学科分类号：
0805 ;
080502 ;
摘要：
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页数：1
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