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SURFACE-ENHANCED RAMAN-SPECTROSCOPY OF ELECTROCHEMICALLY CHARACTERIZED INTERFACES-APPLICATION TO ELECTRODE PROCESSES
被引:0
作者
:
WEAVER, MJ
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0
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0
机构:
PURDUE UNIV,DEPT CHEM,W LAFAYETTE,IN 47907
PURDUE UNIV,DEPT CHEM,W LAFAYETTE,IN 47907
WEAVER, MJ
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FARQUHARSON, S
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PURDUE UNIV,DEPT CHEM,W LAFAYETTE,IN 47907
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FARQUHARSON, S
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TADAYYONI, MA
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PURDUE UNIV,DEPT CHEM,W LAFAYETTE,IN 47907
PURDUE UNIV,DEPT CHEM,W LAFAYETTE,IN 47907
TADAYYONI, MA
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1
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机构
:
[1]
PURDUE UNIV,DEPT CHEM,W LAFAYETTE,IN 47907
来源
:
ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY
|
1984年
/ 188卷
/ AUG期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O6 [化学];
学科分类号
:
0703 ;
摘要
:
引用
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页码:126 / COLL
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