MOIRE DEFLECTOMETRY WITH DEFERRED ANALYSIS

被引：5

作者：

RHODES, DB

FRANKE, JM

JONES, SB

LEIGHTY, BD

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1983年 / 22卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.22.000652

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：652 / 653

页数：2

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