未找到相关数据
HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPE
被引：0
作者：
HONDA, T
[1
]
WATANABE, E
[1
]
HARADA, Y
[1
]
机构：
[1] JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
来源：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
|
1983年
/
32卷
/
01期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
页码：66 / 67
页数：2
相关论文