EFFECTIVE CHARGE CARRIER LIFETIME IN SILICON P-I-N JUNCTION DETECTORS

被引：10

作者：

COLEMAN, JA

SWARTZENDRUBER, LJ

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1966.4324105

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：240 / +

页数：1

共 7 条

[1] RADIATION DAMAGE IN LITHIUM DRIFTED P-I-N JUNCTIONS [J].

COLEMAN, JA ;

RODGERS, JW .

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