FAR INFRARED REFLECTIVITY MEASUREMENTS OF LEAD-TIN-TELLURIDE EPITAXIAL-FILMS

被引：0

作者：

TENNANT, WE ^{[1
]}

CAPE, JA ^{[1
]}

机构：

[1] ROCKWELL INT,SCI CTR,THOUSAND OAKS,CA 91360

来源：

BULLETIN OF THE AMERICAN PHYSICAL SOCIETY | 1974年 / 19卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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