TESTING FOR STUCK-AT-FAULTS IN CMOS CIRCUITS

被引：2
作者：
ISMAEEL, AA [1 ]
NAJEM, Z [1 ]
机构：
[1] KUWAIT INST SCI RES,SAFAT,KUWAIT
来源：
INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS | 1987年 / 63卷 / 05期
关键词：
D O I：
10.1080/00207218708939174
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：677 / 685
页数：9
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共 5 条
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