IMPROVEMENT OF DEFOCUS TOLERANCE IN A HALF-MICRON OPTICAL LITHOGRAPHY BY THE FOCUS LATITUDE ENHANCEMENT EXPOSURE METHOD - SIMULATION AND EXPERIMENT

被引:21
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作者
FUKUDA, H
HASEGAWA, N
OKAZAKI, S
机构
来源
关键词
D O I
10.1116/1.584623
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
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页码:667 / 674
页数:8
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