RAMAN-SCATTERING STUDY OF STRESS-INDUCED FERROELECTRICITY IN KTAO3

被引:38
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作者
UWE, H [1 ]
SAKUDO, T [1 ]
机构
[1] ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.15.337
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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页码:337 / 345
页数:9
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