共 1 条
- [1] 1985, LASER FOC E, V21, P118
TESTING OPTICS - PHASE-MEASURING INTERFEROMETRY BENEFITS FROM DATA-PROCESSING POWER
被引：0
作者：
不详
机构：
来源：
LASER FOCUS-ELECTRO-OPTICS
|
1986年
/
22卷
/
08期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ;
0803 ;
摘要：
引用
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页码：42 / &
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