SIMPLE METHOD FOR ANALYSIS OF DEPTH-SELECTIVE MOSSBAUER-EFFECT MEASUREMENTS

被引:14
作者
BAVERSTAM, U [1 ]
EKDAHL, T [1 ]
BOHM, C [1 ]
LILJEQUIST, D [1 ]
RINGSTROM, B [1 ]
机构
[1] UNIV STOCKHOLM, INST PHYS, STOCKHOLM, SWEDEN
来源
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1974年 / 118卷 / 01期
关键词
D O I
10.1016/0029-554X(74)90724-1
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
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共 2 条
[1]   DEPTH SELECTIVE MOSSBAUER-EFFECT MEASUREMENTS BY MEANS OF SCATTERED ELECTRONS [J].
BAVERSTA.U ;
EKDAHL, T ;
BOHM, C ;
RINGSTRO.B ;
STEFANSS.V ;
LILJEQUI.D .
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS, 1974, 115 (02) :373-380
[2]  
BAVERSTAM U, 1974, MOSSBAUER EFFECT MET, V9