HOW TO INCREASE THE SENSITIVITY IN A POLARIZATION INTERFEROMETER

被引：1

作者：

ECHARRI, RM

SIMON, JM

SIMON, MC

机构：

[1] Departamento de Fisica, Facul-tad de Ciencias Exactas y Naturales Ciudad Universi-taria, Buenos Aires, 1428

来源：

APPLIED OPTICS | 1991年 / 30卷 / 31期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.30.004483

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

Two methods to measure the difference between the phase shifts in a dielectric reflection and a metal one are compared. Both methods consist of using a Smith-type interferometer, and they differ in the analyzer used.

引用

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