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CHARACTERIZATION OF MBE-GROWN SI ON (OO1) GAAS BY TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
被引：0
作者：
BULLELIEUWMA, CWT
[1
]
机构：
[1] PHILIPS RES LABS,5600 JA EINDHOVEN,NETHERLANDS
关键词：
D O I：
10.1016/0304-3991(86)90016-1
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
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