INSITU X-RAY-DIFFRACTION STUDY OF MELTING IN GOLD CONTACTS TO GALLIUM-ARSENIDE

被引：12
作者：
ZENG, XF
CHUNG, DDL
机构：
[1] CARNEGIE MELLON UNIV,DEPT MET ENGN & MAT SCI,PITTSBURGH,PA 15213
[2] CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
来源：
SOLID-STATE ELECTRONICS | 1984年 / 27卷 / 04期
关键词：
D O I：
10.1016/0038-1101(84)90167-9
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：339 / 345
页数：7
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