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ELECTRICAL-RESISTIVITY OF VERY THIN SINGLE-CRYSTAL TITANIUM FILMS AS A FUNCTION OF TEMPERATURE
被引:11
作者
:
CABALLERO, J
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CABALLERO, J
KREMER, G
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KREMER, G
MORAGA, LA
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MORAGA, LA
机构
:
来源
:
THIN SOLID FILMS
|
1984年
/ 117卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0040-6090(84)90188-3
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
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页码:1 / 8
页数:8
相关论文
共 3 条
[1]
CABALLERO J, 1983, THESIS U AUSTR CHILE
[2]
ELECTRICAL RESISTIVITY OF EPITAXIAL TITANIUM FILMS
[J].
GOULD, G
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GOULD, G
;
GRAHMAN, C
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LARSON, DC
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;
MORAGA, L
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MORAGA, L
.
THIN SOLID FILMS,
1972,
13
(01)
:61
-&
[3]
METHOD FOR FITTING FUCHS-SONDHEIMER THEORY TO RESISTIVITY-THICKNESS MEASUREMENTS FOR ALL FILM THICKNESSES
[J].
GOULD, GN
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GOULD, GN
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MORAGA, LA
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共 3 条
[1]
CABALLERO J, 1983, THESIS U AUSTR CHILE
[2]
ELECTRICAL RESISTIVITY OF EPITAXIAL TITANIUM FILMS
[J].
GOULD, G
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GOULD, G
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GRAHMAN, C
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MORAGA, L
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MORAGA, L
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THIN SOLID FILMS,
1972,
13
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[3]
METHOD FOR FITTING FUCHS-SONDHEIMER THEORY TO RESISTIVITY-THICKNESS MEASUREMENTS FOR ALL FILM THICKNESSES
[J].
GOULD, GN
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GOULD, GN
;
MORAGA, LA
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MORAGA, LA
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THIN SOLID FILMS,
1972,
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