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SELF-TRAPPING AND DEFECT REACTIONS
被引：0
作者：
TOYOZAWA, Y
机构：
来源：
SEMICONDUCTORS AND INSULATORS
|
1983年
/
5卷
/
3-4期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页码：175 / 200
页数：26
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