SPACE-TIME RESOLVED REFLECTIVITY MEASUREMENTS OF PICOSECOND LASER-PULSE INDUCED PHASE-TRANSITIONS IN (111) SILICON SURFACE-LAYERS

被引:54
作者
YEN, R
LIU, JM
KURZ, H
BLOEMBERGEN, N
机构
来源
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING | 1982年 / 27卷 / 03期
关键词
D O I
10.1007/BF00616666
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:153 / 160
页数:8
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