ELECTROMIGRATION OF GRAIN-BOUNDARIES IN ALUMINUM (99.995 PERCENT)

被引：4

作者：

PIERI, JC ^{[1
]}

NIAZI, A ^{[1
]}

JOUTY, R ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV SCI & TECH LANGUEDOC,LAB PHYS METAUX,MONTPELLIER,FRANCE

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1975年 / 27卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210270209

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：383 / 391

页数：9

共 15 条

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