COUNTERMEASURE AGAINST RADIATION-DAMAGE IN WET MICROSCOPY

被引：0

作者：

FUKUSHIMA, K ^{[1
]}

ISHIKAWA, A ^{[1
]}

FUKAMI, A ^{[1
]}

机构：

[1] NIHON UNIV,COLL HUMAN SCI,DEPT PHYS,SETAGAYA KU,TOKYO 156,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1987年 / 36卷 / 05期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：315 / 316

页数：2

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