RAPID TESTING FOR NOISE-IMMUNITY OF ELECTRON DEVICES

被引：2

作者：

NINOMIYA, T ^{[1
]}

HARADA, K ^{[1
]}

机构：

[1] KYUSHU UNIV,DEPT ELECTR,HIGASHI 812,FUKUOKA,JAPAN

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY | 1976年 / 25卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TR.1976.5214960

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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共 2 条

[1] HARADA K, 1975, 5TH P RM S JAP, P343
[2] SHOOMAN ML, 1968, PROBABILISTIC RELIAB, pCH7