DIRECT MEASUREMENT OF NA+ ION MOBILITY IN SIO2-FILMS

被引：23

作者：

KRIEGLER, RJ ^{[1
]}

DEVENYI, TF ^{[1
]}

机构：

[1] BELL NO RES, OTTAWA, ONTARIO, CANADA

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(76)90057-2

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：435 / 439

页数：5

共 6 条

[1] SPACE-CHARGE-LIMITED IONIC CURRENTS IN SILICON DIOXIDE FILMS [J].

HOFSTEIN, SR .

HOFSTEIN, SR .

[3]

KRIEGLER RJ, 1973, 11TH P REL PHYS S LA, P153

[4]

Kriegler RJ., 12 INT REL S LAS VEG, P250, DOI [10.1109/IRPS.1974.362654, DOI 10.1109/IRPS.1974.362654]

MANY, A ;

RAKAVY, G .

PHYSICAL REVIEW, 1962, 126 (06) :1980-&

[6] MOBILE ION TRANSFER TO SIO2 FILMS FROM ETHANOL [J].

RAIDER, SI ;

FLITSCH, R .