ARRAY VELOCIMETER IMAGING LASER SPECKLE PATTERN

被引：2

作者：

CHEN, PF ^{[1
]}

机构：

[1] USA,INST RES,ENGINEER TOPOG LABS,FT BELVOIR,VA 22060

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT | 1976年 / 25卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/TIM.1976.6312322

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：108 / 111

页数：4

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共 6 条

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