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PHYSICAL-PROPERTIES AND ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF SI/COSI2/SI HETEROSTRUCTURES
被引:0
作者
:
ROSENCHER, E
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0
机构:
CTR NATL ETUD TELECOMMUN,F-38240 MEYLAN,FRANCE
CTR NATL ETUD TELECOMMUN,F-38240 MEYLAN,FRANCE
ROSENCHER, E
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1
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DAVITAYA, FA
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CTR NATL ETUD TELECOMMUN,F-38240 MEYLAN,FRANCE
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DAVITAYA, FA
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BADOZ, PA
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BADOZ, PA
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DELAGE, S
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DELAGE, S
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DANTERROCHES, C
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DANTERROCHES, C
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PFISTER, JC
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PFISTER, JC
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机构
:
[1]
CTR NATL ETUD TELECOMMUN,F-38240 MEYLAN,FRANCE
来源
:
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS
|
1986年
/ 15卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:305 / 306
页数:2
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