CHARGING EFFECT IN X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROMETRY

被引:63
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作者
EBEL, MF [1 ]
EBEL, H [1 ]
机构
[1] TH VIENNA,INST TECH PHYS,KARLSPLATZ 13,A-1040 VIENNA,AUSTRIA
关键词
D O I
10.1016/0368-2048(74)80008-3
中图分类号
O433 [光谱学];
学科分类号
0703 ; 070302 ;
摘要
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页码:169 / 180
页数:12
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