THE OPTIMUM SAMPLE-SIZE FOR THE SEQUENTIAL TEST PLAN, WITH REPLACEMENT, IN THE EXPONENTIAL CASE

被引：2
作者：
KECECIOGLU, D [1 ]
LI, DJ [1 ]
机构：
[1] CHINA AVIAT RES INST STANDARDIZAT,BEIJING,PEOPLES R CHINA
来源：
RELIABILITY ENGINEERING & SYSTEM SAFETY | 1988年 / 23卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1016/0951-8320(88)90019-1
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页数：12
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共 2 条
[1]   SEQUENTIAL LIFE TESTS IN THE EXPONENTIAL CASE [J].
EPSTEIN, B ;
SOBEL, M .
ANNALS OF MATHEMATICAL STATISTICS, 1955, 26 (01) :82-93
[2]  
Mogg JM, 1974, J QUAL TECHNOL, V6, P46
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