EFFECTS OF INTERFACIAL MICROSTRUCTURE ON UNIFORMITY AND THERMAL-STABILITY OF AUNIGE OHMIC CONTACT TO N-TYPE GAAS

被引:130
作者
SHIH, YC
MURAKAMI, M
WILKIE, EL
CALLEGARI, AC
机构
关键词
D O I
10.1063/1.339860
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:582 / 590
页数:9
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