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OPTICALLY-ACTIVE TRANSITION-METAL DEFECTS IN SILICON
被引：0
作者：
CARMO, MCD
NAZARE, MH
THOMAZ, MF
CALAO, I
CERQUEIRA, F
DAVIES, G
机构：
来源：
CHARACTERIZATION OF THE STRUCTURE AND CHEMISTRY OF DEFECTS IN MATERIALS
|
1989年
/
138卷
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
引用
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页码：221 / 226
页数：6
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