PERSISTENCE OF N-BEAM DYNAMICAL EFFECTS IN HIGH-VOLTAGE ELECTRON-DIFFRACTION FROM SINGLE THIN PARAFFIN MICROCRYSTALS

被引：27

作者：

DORSET, DL ^{[1
]}

机构：

[1] MED FDN BUFFALO,MOLEC BIOPHYS DEPT,73 HIGH ST,BUFFALO,NY 14203

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1976年 / 47卷 / 02期

基金：

美国国家科学基金会;

关键词：

D O I：

10.1063/1.322610

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：780 / 782

页数：3

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共 13 条

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