ATOMIC AND MOLECULAR ION EMISSION FROM SILICA IN LASER MICROPROBE MASS ANALYSIS (LAMMA) - COMPARISON WITH SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY (SIMS) AND SPARK SOURCE-MASS SPECTROMETRY (SSMS)

被引：25
作者：
MICHIELS, E
CELIS, A
GIJBELS, R
机构：
来源：
INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES | 1983年 / 47卷 / JAN期
关键词：
D O I：
10.1016/0020-7381(83)87127-7
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学]; O56 [分子物理学、原子物理学];
学科分类号：
070203 ; 070304 ; 081704 ; 1406 ;
摘要：
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页码：23 / 26
页数：4
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