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ELECTRON CHANNELING CONTRAST OF SUB-MICRON STRUCTURE IN METALS AND ALLOYS
被引:0
作者
:
ONO, A
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机构:
JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
ONO, A
OTSUJI, H
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机构:
JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
OTSUJI, H
NAKAGAWA, S
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机构:
JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
NAKAGAWA, S
HARASE, J
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机构:
JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
HARASE, J
SHIMIZU, T
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机构:
JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
SHIMIZU, T
OHTA, K
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机构:
JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
OHTA, K
机构
:
[1]
JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
[2]
NIPPON STEEL CORP,KITAKYUSHU,FUKUOKA 805,JAPAN
来源
:
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
|
1984年
/ 33卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TH742 [显微镜];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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页码:271 / 272
页数:2
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