LOW-VOLTAGE ELECTRON-MICROSCOPY - HOW LOW

被引：7

作者：

BARTH, JE ^{[1
]}

LEPOOLE, JB ^{[1
]}

机构：

[1] DELFT UNIV TECHNOL,DEPT APPL PHYS,DELFT,NETHERLANDS

来源：

ULTRAMICROSCOPY | 1976年 / 1卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(76)90054-1

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

收藏

页码：387 / 388

页数：2

相关论文

共 5 条

[1] VERY LOW-VOLTAGE ELECTRON-MICROSCOPY [J].

CREWE, AV .

ULTRAMICROSCOPY, 1976, 1 (03) :267-269

[2]

ISAACSON M, 1974, OPTIK, V41, P92

[3]

NIXON WC, 1958, 4 INT C EL MICR BERL, V1, P302

[4]

WILSKA AP, 1970, 7TH P INT C EL MICR, V1, P149

[5]

WILSKA AP, 1960, EUROPEAN REGIONAL C, V1, P105