QUANTITATIVE-ANALYSIS USING SECONDARY ION EMISSION ON HISTOLOGICAL SAMPLES

被引：1
作者：
TRUCHET, M
机构：
来源：
JOURNAL DE PHYSIQUE | 1984年 / 45卷 / NC-2期
关键词：
D O I：
10.1051/jphyscol:19842121
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页码：533 / 536
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BERHHEIM M, 1973, THESIS ORSAY
[2]  
HAVETTE A, 1980, CR ACAD SCI B PHYS, V290, P51
[3]   VARIATION OF SECONDARY IONIC EMISSION OF NI-CR, FE-CR, FE-NI ALLOYS AS FUNCTION OF CONCENTRATION IN SOLUTE [J].
PIVIN, JC ;
ROQUESCARMES, C ;
SLODZIAN, G .
INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES, 1978, 26 (03) :219-235
[4]  
SLODZIAN G, 1963, THESIS ORSAY
[5]  
SLODZIAN G, 1981, CR ACAD SC PARIS B, V291, P121
1