RADIATION EFFECTS IN A CMOS-SOS-AL-GATE D-A CONVERTER AND ON-CHIP DIAGNOSTIC TRANSISTORS

被引：6

作者：

BRUCKER, GJ

HEAGERTY, W

机构：

[1] RCA,DIV ASTRO-ELECTR,PRINCETON,NJ 08540

[2] RCA,ADV TECHNOL LAB,CAMDEN,NJ

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1976年 / 23卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1976.4328551

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1617 / 1622

页数：6

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共 3 条

[1]

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