Projectively flat affine surfaces with flat affine metric

被引：0
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作者：
Lee C.I. [1 ]
Vrancken L. [2 ]
机构：
[1] School of Information Tech. and Eng., George Mason University, Fairfax
[2] Universiteit Utrecht, Mathematisch Instituut, 3584 CD Utrecht
来源：
Journal of Geometry | 2001年 / 70卷 / 1期
关键词：
Affine metric; Flat connection; Projectively flatness;
D O I：
10.1007/PL00000997
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
We completely classify affine surfaces with projectively flat induced connection and flat affine metric. © Birkhäuser Verlag, Basel, 2001.
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页数：15
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