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United states patent and trademark office interviews—kill or cure?
被引：0
作者：
Arnold B. Silverman
机构：
[1] Eckert Seamans Cherin & Mellott,
[2] LLC,undefined
来源：
关键词：
Patent Application;
United States Patent;
Legal Standard;
Disastrous Experience;
Patent Examiner;
D O I：
10.1007/s11837-003-0017-y
中图分类号：
学科分类号：
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